主要特性
表面微观特征是材料、化学、精密制造等领域的主要研究内容,准确地评价表面微观形貌、表面特征等,对于相关材料的评定、性能的分析和加工工艺的改善都具有重要意义。
在半导体、光伏、LED、MEMS器件、材料等领域,表面台阶高度、膜厚的准确测量具有十分重要的价值,尤其是台阶高度是一个重要的参数,对各种薄膜台阶参数的精确、快速测定和控制,是保证材料质量、提高生产效率的重要手段。
出色的重复性和再现性
(1)单拱龙门式设计,结构稳定性优异,大大降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响,提高了测量精度;
(2)线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13um 量程下可达0.01 埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。
超微力恒力传感器:0.5-50mg可调
独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调,以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的精准接触式测量。
超平扫描平台
系统配有超高直线度导轨,杜绝运动中的细微抖动,提高扫描精度,真实反映工件微小形貌。
全自动XY载物台,Z轴自动升降、360°全自动θ转台
精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台,可以对样品的位置以及角度进行调节,三维位置均可以调节,利于样品调整,提高测量效率。
2026/03/13
精确表征有机异质界面:解析传输长度法TLM中的几何偏差与接触电阻物理关联
在有机电子学研究领域,有机薄膜晶体管的性能优化很大程度上取决于金属电极与有机半导体界面间的载流子注入效率。为了准确量化这一界面特性,
2026/03/12
在半导体制造、微纳结构加工以及薄膜材料研究中,表面形貌和台阶高度测量是基础而重要的表征手段。随着薄膜工艺向纳米尺度发展,对测量设备的
2026/03/09
在半导体制造、光伏电池、MEMS器件以及先进薄膜材料研发过程中,薄膜厚度与表面形貌的精确测量是质量控制和工艺优化的关键环节。当前工业与科研