主要特性
◇ 适合12寸晶圆芯片制造;
◇ 两个FIMSloadport;
◇ 双探头切换,适合不同应用场景,避免探头直接沾污;
◇ 控温载片台, 超大升温区间 ,实现超小TCR系数测量(可选配);
◇ 硅片厚度原位测量(可选配置);
◇ 可选配SECS/GEM厂务通讯协议。
◇ 测量范围跨越13个数量级; ◇ 满足各类工艺节点要求; ◇ 下针高度自动控制,自动清针组合; ◇ 基于Fab全自动机台量测性能设计; ◇ 对标KLA机台,满足金属、离子注入、外延等各类高要求测量。
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